日本SAN-EI 太陽光模擬器廣泛用于研究氣相及液相介質(zhì)、固定及流動體系、光催化產(chǎn)氣、紫外光、單色光、可見光光照光催化劑等條件下的光化學(xué)反應(yīng)，具有提供分析反應(yīng)產(chǎn)物和自由基的樣品，測定反應(yīng)動力學(xué)常數(shù)，測定量子產(chǎn)率等功能。

　　太陽光模擬器的分類有兩種，一種是全光譜模擬器，它與大氣質(zhì)量和/或帶通濾光片連用時能模擬各種太陽光譜。另一種是紫外太陽光模擬器，能匹配太陽光譜的紫外部分，幾乎不會產(chǎn)生可見光和紅外線。

　　那么太陽光模擬器性能好不好，產(chǎn)品好不好該從哪些方能來考慮衡量，下面我們來科普一番。

　　1、光譜匹配度

　　光譜匹配度的定義是模擬光分別在400-500nm、500-600nm、600-700nm、700-800nm、800-900nm和900-1100nm這6個光譜范圍內(nèi)與真實太陽光的匹配程度，用百分比來表示。根據(jù)數(shù)據(jù)的偏離情況對模擬器匹配程度的等級進行劃分。

　　2、輻照時間不穩(wěn)定性

　　輻照穩(wěn)定性是標準的第三項性能參數(shù)指標，它要求日本SAN-EI 太陽光模擬器的輸出光束長時間保持穩(wěn)定的照度以確保太陽能電池效率測定的性。對于輻照不穩(wěn)定性，還細分為長期不穩(wěn)定性（LTI）和短期不穩(wěn)定性（STI），分別對應(yīng)整個IV測試過程中輻照度的變化和取點過程中輻照度的變化。

　　3、輻照空間不均勻性

　　在測試區(qū)域的輻照度應(yīng)達到一定的均勻度要求。計算方法為：不均勻度=（大輻照度-小輻照度）/（大輻照度+小輻照度）×100%。

　　光照均勻性是難達到和保持的一項指標，工作面積上的強光點會導(dǎo)致被測電池效率產(chǎn)生嚴重誤差，并導(dǎo)致電池分級錯誤。均勻度日本SAN-EI 太陽光模擬器就能將這種強光點對產(chǎn)品的影響降到低，其空間均勻性嚴格控制于≤2%。