寬光譜太陽光模擬器，目前由日本SAN-EI公司開發完成，并且已交付日本產業綜合技術研究所AIST使用；該設備光譜不匹配性<±5%，有效光譜范圍300nm~1800nm，為太陽能電池計量標準化、研究和研發新一代太陽能電池提供可能；

可廣泛應用于各種太陽能電池的測試：非晶硅(Amorphus Silicon, a-Si)、微晶硅(Nanocrystalline Silicon，nc-Si，Microcrystalline Silicon，mc-Si)、半導體化合物II-IV 族[CdS、CdTe(碲化鎘)、CuInSe2]、燃料敏化電池(DSSC)、有機導電高分子(Organic/polymer solar cells) 、CIGS (銅銦硒化物)等，尤其是對于薄膜多結太陽能電池測試；

寬光譜太陽光模擬器

技術參數： AM1.5G & AM0高匹配光譜！
標準化太陽能模擬器（A+A+A+），太陽光模擬器（AAA Class），High spectral match Solar Simulator；太陽能電池IV測試儀，量子效率，光譜響應及IPCE測量系統；
 1，采用雙燈混合設計；
 2，有效照光面積：2inch×2inch，4inch×4inch，6inch×6inch，8inch×8inch，10inch×10inch，12inch×12inch等（其他尺寸可定制）；
  （組件/模組測試儀、穩態組件太陽光模擬器）；
 3，光譜不匹配度：AM1.5G, ＜±5%, A+ Class；
 4，輻射空間不均勻性：＜2%，A Class；  
 5，時間不穩定性：＜1%，A Class；
 6，輻射強度：輻射強度可調±30%；
 7，連續照射模式；

主要特點：
 1，匹配標準：ASTM 、IEC 、JIS ；
 2，可以任意調節照射方向以及燈的位置；
 3，用戶可自己設定任意光照強度；
 4，燈使用壽命計時；

另外，我公司為客戶提供其他類型太陽能測性能試設備：

     • 太陽能電池光譜響應測試系統、IPCE測試系統、量子效率測試系統；

     • 太陽能電池測量系統（光譜響應測試系統,IPCE測試系統,量子效率測試系統，I-V曲線測量系統），太陽能電池測試儀；

     • 太陽能電池I-V曲線測量系統；

     • I-V 數據采集系統；

     • 大面積太陽能模擬器/太陽光模擬器/雙燈太陽光模擬器；

     • 太陽能電池分選機；

     • 太陽能電池I-V測試儀；

     • 分光輻射度計，

     • 參考電池/標準電池，

     • 有機太陽能電池載流子遷移率測量系統；

     • 鈣鈦礦太陽能電池載流子遷移率測量系統；