日本SAN-EI 50mm*50mm雙燈太陽光模擬器

日本SAN-EI 50mm*50mm雙燈太陽光模擬器,又稱寬光譜太陽光模擬器，交付日本產業綜合技術研究所AIST使用；該設備采用雙燈組合設計，光譜不匹配性優于±5%，更加接近AM1.5G標準太陽光光譜，在很大程度上避免了光譜失配對測試結果的影響，而且有效光譜范圍300nm~1800nm，為深層次太陽能電池計量測試、研究和研發新一代太陽能電池提供有效手段；對于測量單結，疊層，多結太陽能電池光電特性尤為重要。

可廣泛應用于各種太陽能電池的測試：

 非晶硅(Amorphus Silicon, a-Si)

 微晶硅(Nanocrystalline Silicon，nc-Si，Microcrystalline Silicon，mc-Si)

 半導體化合物II-IV 族[CdS、CdTe(碲化鎘)、CuInSe2]

 燃料敏化電池(DSSC)

 有機導電高分子(Organic/polymer solar cells)

 CIGS (銅銦硒化物)等，尤其是對于薄膜多結太陽能電池測試；OPV有機太陽能電池、PVK鈣鈦礦太陽能電池、DSSC燃料敏化電池、量子點太陽能電池、有機無機雜化太陽能電池等等。還可應用于材料、化學、能源等領域的實驗中。

技術參數： AM1.5G & AM0高匹配光譜！

匹配標準的太陽能模擬器（A+A+A+），太陽光模擬器（寬光譜），Super AAA Class Solar Simulator；太陽能電池IV測試儀，量子效率，光譜響應及IPCE測量系統；
 1.采用雙光源混合燈體設計；
 2.有效照光面積：2inch×2inch，4inch×4inch，6inch×6inch，8inch×8inch，10inch×10inch，12inch×12inch，500mm*500mm等（其他尺寸可定制）；（組件/模組測試儀、穩態組件太陽光模擬器）；
 3.光譜不匹配度：AM1.5G, ＜±5%, A+ Class；
 4.輻射空間不均勻性：＜2%，A Class；  
 5.時間不穩定性：＜1%，A Class；
 6.輻射強度：輻射強度可調±30%；
 7.連續照射模式；

 8.光強實時反饋控制單元；

 目前此款設備已被中國計量科學研究院和日本AIST所采用。

主要特點：

 1.匹配標準：ASTM 標準、IEC 標準、JIS 標準；
 2.可以任意調節照射方向以及燈的位置；
 3.用戶可自己設定光照強度；
 4.燈使用壽命計時；

實測光譜圖：

AM1.5G光譜

AM0光譜

擴展功能：
     • 測試源表；
     • 測試探針臺；
     • 標準電池reference Cell；
     • 多路控制器；
     • 溫控測試臺；
     • IV測試軟件:
     • 基本測量功能： 完整 I-V 曲線測量， 完整 P-V 曲線測量，短路電流 Isc 測量，開路電壓 Voc 測量， 短路電流密度 Jsc 測量，峰值功率 Pmax 測量，峰值功率電流 Imp 測量，峰值功率電壓 Vmp 測量，效率測量，填充因子 FF 測量，串聯電阻 Rs 測量，并聯電阻 Rsh 測量；
     • Light光照條件下，太陽能電池IV 和PV曲線測量（包含Forward正向掃描和Reverse反向掃描測試功能）；
     • Light光照條件或Dark無光照條件下，太陽能電池I-V 和P-V曲線測量，I-t曲線和V-t曲線測量；
     • Bias偏壓或Steady State穩態測量功能（太陽能電池效率衰減測試功能）；
     • MPPT 追蹤測試功能（Pmax 功率點隨時間的變化）；
     • Repeatability 重復性測試功能。

另外，我公司為客戶提供其他類型太陽能測性能試設備：

    • 太陽能電池光譜響應測試系統、IPCE測試系統、量子效率測試系統；

    • 太陽能電池測量系統（光譜響應測試系統,IPCE測試系統,量子效率測試系統，I-V曲線測量系統），太陽能電池測試儀；

    • 太陽能電池I-V曲線測量系統；

    • I-V 數據采集系統；

    • 大面積太陽能模擬器/太陽光模擬器/雙燈太陽光模擬器；

    • 太陽能電池分選機；

    • 太陽能電池I-V測試儀；

    • 分光輻射度計，

    • 參考電池/標準電池，

    • 有機太陽能電池載流子遷移率測量系統；

    • 鈣鈦礦太陽能電池載流子遷移率測量系統；